Titel: Ledningevner på mikrometerskala
Vejleder: Philip Hofmann
Fagområde Eksperimentel faststoffysik/overfladefysik
Abstract: 4-punkts ledningsevnemålinger er standard fremgangsmåden til elektrisk karakterisering af makroskopiske prøver. Der er imidlertid mindst 2 gode grunde til at sådanne målinger foretaget i mikrometer eller endda i nanometer skala, er specielt fordelagtige. For det første vil en reduktion af afstanden mellem kontakterne forøge overfladefølsomheden, som kan være afgørende, når tyndfilm bliver undersøgt. For det andet sker der en tiltagende integration af elektriske kredsløb ligesom mulighederne for at fremstille kredse af molekylær elektronik bliver stadig mere lovende. Dette skaber efterspørgsel efter karakteriseringsværktøjer med passende længdeskala. I dette projekt benytter vi 4-punkts mikroprober - udviklet af MIC og CAPRES - til at undersøge overfladers og tyndfilms konduktivitetsegenskaber i ultrahøjt vacuum (UHV).